芯片外观缺陷主检测的主要检测内容：封装体缺陷；印刷缺陷；管脚缺陷。
数字锁相、频率更宽、稳定性好、响应时间≤10ms
非接触式、数字感应、体小量轻、操作便捷、稳定性好
慧目RD-PC100光学筛选机，是专业视觉检测设备。采用机器视觉原理，通过 CCD 图像传感器与图像处理系统自动辨别产品外观缺陷，分选出合格与不合格件并统计分析数据，具备自动上料装置，多视角检测，360°全检。 可检多种物件，涵盖尺寸、镀层、压伤等众多检测项目。 适用规格广泛，检测速度快、精度高。
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